한국광학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Optical Society of Korea Conference)

한국광학회 (Optical Society of Korea)
권호 표지

LII 감쇄법을 이용한 나노입자 크기측정

Nano-particle size detection by LII decay method

  • 엄규섭 (한국표준과학연구원 레이저계측그룹) ;
  • 박성종 (한국과학기술원 물리학) ;
  • 박철웅 (한국표준과학연구원 레이저계측그) ;
  • 한재원 (연세대학교 기계공학) ;
  • 최원호 (한국과학기술원 물리학) ;
  • 정광화 (한국표준과학연구원 진공기술센) ;
  • 신용현 (한국표준과학연구원 진공기술센터)
  • 발행 : 2002.07.01
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초록

Laser-induced incandescence (LII) 측정법은 조사된 레이저에 의하여 입자가 가열됨에 따라서, 그 온도에 상응하는 흑체복사의 시간적 감소추이가 입자의 크기에 따라서 달리 나타나는 것을 이용하여 입자의 크기를 측정하는 방법이다. LII 감쇄법은 레이저에 의하여 가열된 입자의 에너지 균형 상관식에서 입자의 크기가 클수록 신호의 감쇄속도가 느리고, LII 신호의 감쇄비가 실험적으로 입자의 크기에 비례한다는 사실을 이용하여 연소진단에 응용되어 왔다. (중략)

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