한국광학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Optical Society of Korea Conference)

한국광학회 (Optical Society of Korea)
권호 표지

하트만 센서를 이용한 정밀 고속 파면측정 알고리즘에 관한 연구

A Study on a Fast and High Precision Measuring Algorithm of Wavefront Using the Shack-Hartman Sensor

  • 박승규 (한국원자력연구소, 양자광학기술개발팀) ;
  • 백성훈 (한국원자력연구소, 양자광학기술개발) ;
  • 서영석 (한국원자력연구소, 양자광학기술개발) ;
  • 김철중 (한국원자력연구소, 양자광학기술개발) ;
  • 박준식 (충남대학교 전자공학) ;
  • 나성웅 (충남대학교 전자공학과)
  • 발행 : 2002.07.01
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초록

하트만 센서를 이용한 파면 왜곡 측정에서 측정 정밀도와 측정 속도는 왜곡을 실시간으로 보정하고자 하는 적응광학 기술에서 중요한 요소이다. 파면왜곡을 측정하고 보정하는 실제 환경에서 적응광학장치는 전기적으로 안정된 시스템의 구성이 요구된다. 본 논문에서는 하트만 센서를 이용한 파면 측정과정에서 넓은 측정 범위를 가지면서도 고속 정밀한 파면 정보를 추출할 수 있는 알고리즘을 연구하였고 적응광학 부품들을 제어함에 있어 전기적으로 안정된 하드웨어 장치들을 구성하였다. (중략)

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