Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)
- 2002.07a
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- Pages.28-29
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- 2002
A Study on a Fast and High Precision Measuring Algorithm of Wavefront Using the Shack-Hartman Sensor
하트만 센서를 이용한 정밀 고속 파면측정 알고리즘에 관한 연구
Abstract
하트만 센서를 이용한 파면 왜곡 측정에서 측정 정밀도와 측정 속도는 왜곡을 실시간으로 보정하고자 하는 적응광학 기술에서 중요한 요소이다. 파면왜곡을 측정하고 보정하는 실제 환경에서 적응광학장치는 전기적으로 안정된 시스템의 구성이 요구된다. 본 논문에서는 하트만 센서를 이용한 파면 측정과정에서 넓은 측정 범위를 가지면서도 고속 정밀한 파면 정보를 추출할 수 있는 알고리즘을 연구하였고 적응광학 부품들을 제어함에 있어 전기적으로 안정된 하드웨어 장치들을 구성하였다. (중략)
Keywords