Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)
- 2002.07a
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- Pages.190-191
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- 2002
Measurement of TE/TM Polarization Dependency of Silica MMI Couplers
실리카 다중모드 간섭기에 대한 TE/TM 분극 의존도 측정
Abstract
광소자 설계 시 TE/TM 분극에 대한 민감도는 매우 중요한 요소로 작용을 한다. 이러한 민감도를 줄이기 위해 많은 광소자에 다중모드 간섭기가 이용되고 있다. 다중모드 간섭기에 입력되는 신호는 TE와 TM 두 모드의 분극으로 이루어져 있으며, 각각은 도파로 내에 존재하는 모드에 실려 50:50의 파워 분배를 가지고 진행하게 된다. 그러므로 광소자를 제작하기 위해 TE 또는 TM 모드만을 고려하는 것은 소자의 효율을 떨어뜨리는 요인으로 작용한다. (중략)
Keywords