Annual Conference of KIPS (한국정보처리학회:학술대회논문집)
- 2001.10b
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- Pages.1459-1462
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- 2001
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- 2005-0011(pISSN)
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- 2671-7298(eISSN)
An BIST for Mixed Signal Circuits
혼성회로를 위한 BIST설계
- Bahng, Geum-Hwan (Dept of Electronic Engineering, Yonsei University) ;
- Kang, Sung-Ho (Dept of Electronic Engineering, Yonsei University) ;
- Lee, Young-Hee (Dept of Electronic Engineering, Yonsei University)
- Published : 2001.10.12
Abstract
혼성 신호 회로의 설계에 있어 저비용의 고효율 테스트 효율을 보장하기 위해 테스트의 노력은 계속되어 왔다. 특히 테스트를 고려한 BIST(built-in-self-test)설계 방법으로 발전해가고 있는 추세인데, 회로상에서 전체적인 테스트 용이도와 분석에 있어 보다 향상된 방법으로 접근할 수 있고 이러한 시스템에 대해 분석하는데 수월하게 할 수도 있다. 이 논문에서는 효과적인 테스트를 위한 방법을 위해 전압 검출기를 이용한 기준 전압 DC 테스트로써 테스트시간을 감소시키고 효과적인 고장 검출률을 갖는 BIST를 구현하는 것을 제안하였다. 즉 정상적인 회로와 고장회로에서의 동작에서 전압의 파이를 검출하는 회로를 하드웨어상으로 구성함으로써 비용과 시간등을 효과적으로 줄이는 방법을 제안하였다. 실험 결과에서는 기존의 BIST와 비교하여 향상된 것을 나타낸다.
Keywords