한국광학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Optical Society of Korea Conference)
- 한국광학회 2001년도 제12회 정기총회 및 01년도 동계학술발표회
- /
- Pages.18-19
- /
- 2001
나노 분해능 주사 기술을 이용한 광도파로의 근접장 모드 측정
Near-field mode Profile measurement of waveguides using a nano-aperture scanning technique
초록
일반적으로 weakly guiding되는 waveguide의 mode field profile을 측정하기 위해서는 CCD 카메라와 imaging lens를 사용하여 field distribution을 측정한다. 하지만, 이러한 방법은 빛의 회절한계 현상 때문에 특수 광섬유에서 guiding되는 빛을 높은 분해능으로 측정 할 수 없다는 단점이 있다. 따라서 빛의 회절현상을 극복하기 위해서는 빛이 회절 되기 전의 근접장 영역에서 mode field profile을 측정하는 방법이 필요하다. (중략)
키워드