Evaluation of thermal shear strain in flip-chip package by ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry)

ESPI를 이용한 플립칩 패키지의 열적 전단변형률 평가

  • 장우순 (서울대학교 재료공학부) ;
  • 이백우 (서울대학교 재료공학부) ;
  • 김동원 (서울대학교 재료공학부) ;
  • 나재응 (한국과학기술원 재료공학과) ;
  • 백경욱 (한국과학기술원 재료공학과) ;
  • 권동일 (서울대학교 재료공학부)
  • Published : 2001.10.01