Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2001.07b
- /
- Pages.757-759
- /
- 2001
The study for electrical life test circuit design of Low-voltage magnetic switch
저압 전자개폐기의 전기적 수명 시험회로 설계에 관한 연구
- Na, Chil-Bong (LGIS Power Testing & Technology Institute) ;
- Ham, Gil-Ho (LGIS Power Testing & Technology Institute) ;
- Oh, Joon-Sick (LGIS Power Testing & Technology Institute)
- Published : 2001.07.18
Abstract
전동기 전원 개폐를 주목적으로 하는 전자개폐기는 빈번하고 불규칙한 개폐동작에 의해 발생되는 Arc 에너지에 대해 전기적으로 내구성능을 확보하는 것이 중요하다. 또한, 전기적 내구 성능은 수명과 품질을 결정하는 요인으로서 선진업체에서는 내구성능을 향상시키려 연구개발 활동에 집중하고 있다. 이러한 전기적 내구 성능을 향상, 평가하기 위해서는 장기간에 걸친 시험 기간과 시험규격에서 요구하는 조건을 만족시키는 시험 회로와 설비구성이 필수적이다. 여기서는 전기적 내구 성능에 대한 이해와 시험규격을 통한 시험회로 설계 및 설비제작에 대해 설명하고 시험결과를 분석하고자 한다.
Keywords