대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 2001년도 하계학술대회 논문집 D
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- Pages.2496-2498
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- 2001
Reed-Solomon Product Code의 에러 정정 능력 평가 방법
The Performance evaluation of the Reed-Solomon Product Code(RSPC)
- 황성희 (삼성 전자 디지털 미디어 연구소) ;
- 이윤우 (삼성 전자 디지털 미디어 연구소) ;
- 한성휴 (삼성 전자 디지털 미디어 연구소) ;
- 류상현 (삼성 전자 디지털 미디어 연구소) ;
- 신동호 (삼성 전자 디지털 미디어 연구소) ;
- 박인식 (삼성 전자 디지털 미디어 연구소)
- Hwang, Sung-Hee (Digital Media R&D Center Samsung Electroics Co., Ltd) ;
- Lee, Yoon-Woo (Digital Media R&D Center Samsung Electroics Co., Ltd) ;
- Han, Sung-Hyu (Digital Media R&D Center Samsung Electroics Co., Ltd) ;
- Ryu, Sang-Hyun (Digital Media R&D Center Samsung Electroics Co., Ltd) ;
- Shin, Dong-Ho (Digital Media R&D Center Samsung Electroics Co., Ltd) ;
- Park, In-Sik (Digital Media R&D Center Samsung Electroics Co., Ltd)
- 발행 : 2001.07.18
초록
광 디스크 channel상에서 RSPC의 error correction capability를 확률적인 계산 방법으로 계산하는 데는 많은 어려움이 있다. 그 이유는 바로 광 디스크 channel이 burst error channel이기 때문인데, 이 burst error를 어떻게 다루는 가에 따라 그 error correction capability는 사뭇 달라진다. 이 논문에서는 Sony의 dust error distribution[1] 아래에서 4-state Morkov Chain[2]로 modeling하고 그 결과를 가지고 burst error를 channel의 특성과 ECC format의 특성에 맞게 제어할 수 있는 확률적인 계산방법을 소개하고 그것을 simulation하고자 한다.
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