TPT 서브투어 생성에서의 시험열 선택

Test Case Selection of TPT Subtour Generation

프로토콜을 설계하고 이를 구현하면 IUT가 프로토콜 규격과 일치하는지를 검증하는 적합성 시험을 수행한다. 기존의 시험열 생성 방법은 오일러 경로에 의한 방법을 사용하였으나 이 방법은 전체 경로를 다 포함하지 못한다는 단점이 있다. 이 단점을 개선하여 TPT(Transition Possibility Tree)를 생성하여 확장된 테스트 커버리지를 갖는 서브투어 생성방법이 제안되었다. 이 논문에서 기존에 제안된 TPT 서브투어 생성 방법에서 시험열의 갯수가 많아진다는 단점을 보안하여 TPT 서브투어 생성 방법에서의 효과적인 시험열 선택 방법을 제안하였다. 제안 방법에 의해서 생성된 시험열도 완전한 시험 목적에 부합하지 않는다는 단점은 있으나 시험자가 선택해야 하는 시험열의 양을 최소화하는 데 그 의미가 있다.