02)918-8775
한국어
한국어
English
한국현미경학회
http://microscopy.or.kr/
한국전자현미경학회:학술대회논문집
한국현미경학회 2000년도 제31차 추계학술대회
/
Pages.37-38
/
2000
한국현미경학회 (Korean Society of Microscopy)
Electron Probe를 이용한 미량원소 정량분석법
이석훈
(기초과학지원연구소 중앙분석기기부) ;
임소현
(기초과학지원연구소 중앙분석기기부)
Lee Seok-Hun
;
Im So-Hyeon
발행 : 2000.11.01
PDF
PDF 다운로드
〈 이전 논문
다음 논문 〉
초록
키워드
자세히 찾기
×
제목, 요약, 키워드
학술지
발행년도
권
호
페이지
저자명
저자소속기관
발행처
DOI
자료유형
학술지
학술회의자료
협회지