한국전자현미경학회:학술대회논문집

Korean Society of Microscopy (한국현미경학회)
권호 표지

Nano-scale Characterization of Interfacial Reactions in $SrRuO_3$ Thin Film on Si Substrate

  • 오상호 (포항공과대학교 재료금속공학과) ;
  • 박찬경 (포항공과대학교 재료금속공학과)
  • Published : 2000.05.01
Download PDF
⟨ Previous Next ⟩

Abstract

Keywords