휴대용 CST Deck부의 가속시험을 활용한 출하 수명 보증 시험법 개발

  • 허양현 (LG전자 품질센터 신뢰성추진팀) ;
  • 고영준 (LG전자 품질센터 신뢰성추진팀)
  • Published : 2000.11.01

Abstract

본 Study는 휴대용 CST Deck부의 신뢰성 개선/보증활동 중에서 출하수명 보증을 위해 개발한 가속시험에 관한 것이다. 휴대용 CST의 사용 환경과 Deck부의 고장 특성을 고려하여 진동 Stress를 가속 인자로 검토하였고, 예비 시험을 통해 타당성을 확인하였다. 3 수준에서 실시한 수명 Data를 역거듭 제곱 모형을 적용하여 사용자 수준에서의 신뢰성 정보를 추정하였고, 이를 시장 Data와 비교하여 모형의 타당성을 검토하였다. 3 수준 중에서 가장 Stress가 높은 수준에서의 시험을 출하 수명 보증 시험으로 선정하였고, 이 때 가속 효과는 약 55배인 것으로 추정된다.

Keywords