Proceedings of the Korean Information Science Society Conference (한국정보과학회:학술대회논문집)

  • 2000.10c
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  • Pages.30-32
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  • 2000
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  • 1598-5164(pISSN)
Korean Institute of Information Scientists and Engineers (한국정보과학회)
권호 표지

A Priority based Non-Scan DFT Method for Register-Transfer Level Dapapaths

RTL수준의 데이터패스 모듈을 위한 상위 수준 테스트 합성 기법

  • 김성일 (숭실대학교 컴퓨터구조연구실) ;
  • 김석윤 (숭실대학교 컴퓨터구조연구실) ;
  • 장훈 (숭실대학교 컴퓨터구조연구실)
  • Published : 2000.10.01
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Abstract

본 논문에서는 RTL 회로의 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석방식과 테스트 용이화 설계방식을 제안한다. 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석은 콘트롤러에 대한 정보없이 RTL 회로의 데이터패스만으로 수행한다. 본 논문에서 제안한 테스팅을 고려한 설계방식은 내장된 자체 테스트(BIST)나 주사(scan)방식이 아니며, 주사 방식을 적용했을 때에 비해 본 논문에서 제안한 테스트 용이화 설계방식을 적용했을 때에 보다 적은 면적 증가율(area overhead)을 보인다는 것을 실험을 통해 확인하였다. 또한, 회로 합성 후 ATPG를 통해 적은 면적 증가만으로 높은 고장 검출율(fault coverage)을 얻을 수 있음을 보인다.

Keywords