GaAs MESFET에서 DLTS를 이용한 표면 결함 관찰

Observation of surface states in GaAs MESFET using DLTS

  • 최경진 (포항공과대학교 재료금속공학과) ;
  • 이종람 (포항공과대학교 재료금속공학과)
  • 발행 : 1999.11.01