Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 1999.07g
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- Pages.3012-3014
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- 1999
A Study of Mark Recognition with Noise Immunity
노이즈에 강인한 마크인식에 관한 연구
- Yang, Nam-Yeol (LG Production Engineering Research Center) ;
- Jeong, Soo-Hoa (LG Production Engineering Research Center)
- Published : 1999.07.19
Abstract
CCD 카메라를 이용한 화상처리가 최근 많은 분야에서 활용되고 있다. 특히 반도체 장비, 정밀 위치결정 시스템, 그리고 정밀 Alignment시스템과 같이 정밀한 제어가 요구되는 시스템에서 정화한 화상처리 기술이 요구되고 있다. 본 논문은 화상처리를 이용한 마크 인식에 관한 방법으로 CCD카메라로 부터 얻은 영상에 노이즈가 상당히 포함되어 있는 경우와 마크의 일부분만 보이는 경우에 마크를 정화히 찾는 방법에 관한 연구이다.
Keywords