Electrical Characterization of Ultra-Shallow Junctions Formed by Using $CoSi_2$ as Diffusion Source

$CoSi_2$를 확산원으로 형성한 매우 얇은 접합의 전기적 특성

  • 구본철 (수원대학교 전자재료공학과) ;
  • 정연실 (수원대학교 전자재료공학과) ;
  • 심현상 (수원대학교 전자재료공학과) ;
  • 배규식 (수원대학교 전자재료공학과)
  • Published : 1997.10.01