Effect of Annealing Conditions on the Relaxation of Hysteresis loop of $Pb(Zr,Ti)O_3$ Thin Film Capacitors

열처리 조건이 $Pb(Zr,Ti)O_3$ 박막 캐패시터 이력 곡선의 완화 현상에 미치는 영향

  • Published : 1997.10.01