Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference (한국진공학회:학술대회논문집)

The Korean Vacuum Society (한국진공학회)
권호 표지

Characterization of ERD-TOF system and its application of thin film analysis

  • 김준곤 (한국자원연구소 분석연구부) ;
  • 김영석 (한국자원연구소 분석연구부) ;
  • 최한우 (한국자원연구소 분석연구부) ;
  • 김기동 (한국자원연구소 분석연구부) ;
  • 황정남 (연세대학교 물리학과)
  • Published : 1997.02.01
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