Scanning Probe를 이용한 OMM(On the Machine Measuring) 시스템 개발 및 평가

  • 김선호 (한국기계연구원 자동화연구부)
  • 발행 : 1996.04.01

초록

기계가공 생산시스템에서 대량생산라인의 경우에는 측정 및 검사공정을 별도로 두고 있으나, 금형과 같은 다품종 소량 생산품의 경우에는 이러한 방식이 적합하지않다. 이러한 경우에는 유연성이 높은 3차원 측정기(CMM)를 설치하여 운용하고 있으나 운용비용이 많이 들고 관리하기가 쉽지 않으며 Setup 및 측정시간이 길어져 비경제적일 수가 있다. 또한 3차원 측정기의 한정된 크기때문에 대형가공물이라든지 탈착이 어려운 생산품의 경우에는 마땅한 특정 방법이 없는 실정이다. 본 연구에서는 개발된 OMM 시스템을 3종류의 TV Shadow Mask 금형의 측정에 적용한 결과를 소개한다. 측정된 결과는 CMM을 이용해 측정한 결과와 비교 했고, 비교된 결과를 이용해 개발된 시스템의 반복정밀도, 측정 정확도를 통계적 방법으로그리고 경제적 관점에서 CMM을 이용 한 기존의 방법과 개발된 시스템을 비교 평가했다.

키워드