Nd첨가에 따른 TbFeCo광자기 기록막의 특성변화 연구: XPS결과와의 상관관계 고찰

• Lee, Jong-Wan ;
• Hwang, Chan-Yong ;
• Yoon, Du-Won ;
• Yeon, Jung ;
• Kim, Myung-Ryong

• 이종완 (LG 전자기술원) ;
• 황찬용 (한국표준과학연구원) ;
• 윤두원 (LG 전자기술원) ;
• 연정 (LG 전자 기술원) ;
• 김명룡 (LG 전자기술원)

• Published : 1995.06.01

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