Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy에 의한 Si(001)-2xn 구조의 연구

• 구자용 (한국표준과학연구원) ;
• 이재열 (한국표준과학연구원) ;
• 황찬용 (한국표준과학연구원) ;
• 김달현 (한국표준과학연구원) ;
• 이세경 (한국표준과학연구원) ;
• 이영주 (한국과학기술원) ;
• 김세훈 (한국과학기술원)

• Published : 1995.02.01

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