고온에서 Sputtering한 TiN 박막의 증착조건에 따른 특성변화

  • 이기홍 (삼성전자 주식회사 반도체 연구소 기초연구팀) ;
  • 조만호 (삼성전자 주식회사 반도체 연구소 기초연구팀) ;
  • 이덕형 (삼성전자 주식회사 반도체 연구소 기초연구팀) ;
  • 문종 (삼성전자 주식회사 반도체 연구소 기초연구팀) ;
  • 심태언 (삼성전자 주식회사 반도체 연구소 기초연구팀)
  • Published : 1995.02.01