한국진공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference)

한국진공학회 (The Korean Vacuum Society)
권호 표지

광류미느센스와 쌍결정엑스선 회절 mapping 방법을 이용한 MBE 성장된 AlGaAs 에피층의 특성 분석

Characterization of the MBE Grown AlGaAs Eppitaxial Layer using pphoto-luminescence and Double Crystal X-ray Diffractormeter Mapping Techniques

  • 서경수 (한국전자통신연구소 반도체연구단) ;
  • 이재진 (한국전자통신연구소 반도체연구단)
  • 발행 : 1994.06.01
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