Ion Beam Induced pprocesses in Spputtering of $Ta_2O_5$/Si Interfaces

  • 문대원 (한국표준과학연구원 표면분석연구실) ;
  • 김경중 (한국표준과학연구원 표면분석연구실) ;
  • 김상열 (아주대학교 물리학과)
  • Published : 1993.02.01