Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference (한국전기전자재료학회:학술대회논문집)
- 1992.11a
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- Pages.11-13
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- 1992
A study on the Electric Breakdown Mechanisms using Self-helfing Method of Thin Film
Self-healing 방법을 이용한 박막의 절연파괴 현상 연구
- Yun, J.R. (Depart. of Electric Eng., Myong Ji Univ.) ;
- Kwon, C.R. (Depart. of Electric Eng., Myong Ji Univ.) ;
- Se, K.W. (Depart. of Electric Eng., Myong Ji Univ.) ;
- Park, I.H. (HYUNDAI Electronics Co., Ltd.) ;
- Lee, H.Y. (Depart. of Electric Eng., Myong Ji Univ.)
- 윤중락 (명지대학교 공과대학 전기공학과) ;
- 권정열 (명지대학교 공과대학 전기공학과) ;
- 서강원 (명지대학교 공과대학 전기공학과) ;
- 박인환 (현대전자(주)) ;
- 이헌용 (명지대학교 공과대학 전기공학과)
- Published : 1992.11.07
Abstract
The dielectric reliability of the Thin
Keywords