A state-of-the-art approach to develop built-in-test diagnosis

초기단계의 제품 검사방법은 단순히 제품이 제대로의 기능을 수행하는지 안하는지에 대해서만 검사하고 결정을 내릴 뿐이었다. 대부분의 검사란, 검사자에게 최종적으로 제품이 인수된 후에 제품의 상태여부를 한정적이고, 제한적으로만 판단하여 검사결과를 제공하여왔다. 현대의 제품특성이 구조적 복잡성의 증가, 제품불량 현상파악의 난이도 증가등으로 제품의 사용절차, 검사, 유지보수, 부품교환등이 점점 더 난해해지고, 검사자의 개인적인 숙련도도 증가하게 되어, 제품을 유지보수하는데 더 많은 비용과 시간을 필요로하게 되었다. 이러한 문제들의 해결방안의 하나로 제품의 자체에 스스로 검사할 수 있는 체계적인 시스템을 설치하게 되어 BIT(Built-In-Test)가 탄생하게 되었다. BIT는 현존하는 제품뿐만아니라, 생산될 제품의 설계단계에서도 많이 응용되어 제품의 RAM(Reliability, Availability, Maintainability)에 많은 기여를 해왔다. 이 PAPER는 지금까지 BIT가 주로 Military System에 적용되어온 것을 Commercial system으로의 변환을 위한 기초작업을 제시하고 여러 대안을 열거하였으며, BIT가 갖고 있는 문제점들을 파악하여, 향후 고도화 되가는 산업사회의 요구에 부응할 수 있는 토대를 마련코자 Survey하였다.