대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 1987년도 전기.전자공학 학술대회 논문집(I)
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- Pages.458-460
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- 1987
경계요소법을 이용한 실리콘내에서 2차원 불순물 분포의 산출
A production of two-dimensional impurity using boundary element method in silicon
- Kim, Chan-Ggi (Dept.of Electronics Chung Ang univ.) ;
- Hwang, Ho-Jung (Dept.of Electronics Chung Ang univ.)
- 발행 : 1987.07.03