대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 1987년도 전기.전자공학 학술대회 논문집(I)
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- Pages.400-402
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- 1987
수치해석에 의한 MOS Device의 외부 Bias와 표면준위에 관한 일 고찰
A STUDY ON EXITERNAL BIAS AND SURFACE POTENTIAL OF MOS DEVICE BY NUMERICAL ANALYSIS.
- Joo, Yu-Jin (KOREA UNIVERSITY) ;
- Her, Yoon-Jong (KOREA UNIVERSITY) ;
- Sung, Young-Kwon (KOREA UNIVERSITY)
- 발행 : 1987.07.03