대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 1987년도 전기.전자공학 학술대회 논문집(I)
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- Pages.393-395
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- 1987
산화아연 반도 체내의 불순물 trap 준위에 대한 간접적 측정 방법
A indirect measuring method for impurity trap level in ZnO semiconductor
- Kim, Myung-Sik (KAIST) ;
- Koo, Ja-Yoon (KAIST) ;
- Oh, Myung-Hwan (KAIST)
- 발행 : 1987.07.03