대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 1987년도 전기.전자공학 학술대회 논문집(I)
- /
- Pages.393-395
- /
- 1987
산화아연 반도 체내의 불순물 trap 준위에 대한 간접적 측정 방법
A indirect measuring method for impurity trap level in ZnO semiconductor
- Kim, Myung-Sik (KAIST) ;
-
Koo, Ja-Yoon
(KAIST)
;
- Oh, Myung-Hwan (KAIST)
- 발행 : 1987.07.03