Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

1987.07b
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Pages.1199-1202
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1987

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)

권호 표지

An Implementation for the In-Circuit Tester by using the IBM-PC

마이크로 컴퓨터를 사용한 회로 자동 측정장치의 설계

Lee, Yong-Seok (Dept. of Electronic Eng., AJOU University) ;
Joung, Hwa-Ja (Dept. of Electronic Eng., AJOU University) ;
Kim, Yong-Deak (Dept. of Electronic Eng., AJOU University)

이용석 (아주대학교 전자공학과) ;
정화자 (아주대학교 전자공학과) ;
김용득 (아주대학교 전자공학과)

Published : 1987.07.03

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Abstract

본 연구는 전자부품이 회로기판에 삽입된 후 이를 측정하기 위한 연구로서, 점차 제품의 신뢰도를 요구하는 현 국내.외 실정에 이의 연구는 시급히 필요한 것으로 사료되어 1단계로 단락 측정을 포함한 간단한 기능을 측정하기 위한 방법을 연구한 것이다.

Keywords