선형 예측차수 변화에 따른 음성파라미터의 RMS error 평가비교

  • 이광형 (숭전대학교 전자공학과) ;
  • 김윤겸 (숭전대학교 전자공학과) ;
  • 민경수 (숭전대학교 전자공학과) ;
  • 김대현 (숭전대학교 전자공학과)
  • Published : 1984.10.01