Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

Fault Detection in the 3-Level PLA using Exclusive OR-AND-DR array

Exclusive OR-AND-OR 배열을 이용하는 3단계 PLA에서의 고장 검출

  • 황희융 (서울대학교 전자계산기 공학과) ;
  • 진병문 (서울대학교 전자계산기 공학과) ;
  • 조병호 (서울대학교 전자계산기 공학과)
  • Published : 1983.07.22
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